基于单分子电学测量技术的氢键电输运性质及手性识别的研究

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分子电子学旨在利用单个或少数几个分子为基础电学元器件,以“自下而上”的方式组装集成电路。在纳米尺度实现单个分子的精准电学表征是该领域研究的先决条件。经过近几十年的发展,基于机械可控裂结技术(Mechanically Controllable Break Junction,MCBJ)和扫描隧穿裂结技术(Scanning Tunneling Microscope Break Junction,STM-BJ)的单分子电输运性质测量方法已为分子电子学的研究提供了表征平台。氢键广泛的存在于自然界,如生命体系中
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