近年来,伴随着光通信与光纤传感产业的迅速发展,众多新型光纤也随之出现。新型光纤的使用,极大降低了光束在传输过程中的能量损失,提高了传输效率,为光通信领域带来了新的生机与活力。但新型光纤在应用过程中不可避免的需要与传统单模光纤进行熔接耦合,熔接损耗的大小直接决定了耦合质量的好坏。因此,降低新型光纤与传统普通单模光纤的熔接损耗仍是目前亟需解决的问题。本文针对如何在光纤熔接过程中降低熔接损耗开展研究,通过控制熔接参数,实现被熔接光纤模场匹配,分析确定了不同熔接机的优化参数。同时,针对大规模工业化光纤器件生产过程的质量控制要点,结合光路熔接过程参数和产品测试数据的采集与记录需求,开发了一种熔接机数据采集系统。本文主要研究的内容如下：一、调研了单模光纤低损熔接技术及不同模场直径条件下低损熔接技术国内外研究现状。二、介绍单模光纤熔接损耗相关理论与光纤熔接点损耗测量方法,分析影响光纤熔接损耗的主要因素,阐述了降低熔接损耗的方法。三、介绍增大光纤模场直径的方法,基于加热扩芯技术基本原理与理论模型的分析,通过采用熔接机放电加热扩芯技术,对HI1060光纤与普通单模光纤SMF28进行了实验研究和数值分析,实现了不同模场直径的光纤熔接的低损耗。四、利用LabWindows/CVI集成开发环境,基于C语言开发,编写了大规模工业化光纤器件质量过程控制系统软件。实现了上位机工艺流程控制,熔接机数据采集,相关数据电子报表生成,光纤器件数据库存储访问等功能。