表面活性剂与聚合物的相互作用是表面活性剂学科一个重要的研究领域，所形成的复合体系在工业界有着广泛的用途，如药品、化妆品、洗洁净、涂料、三次采油等。因此研究表面活性剂—聚合物体系的性质与表面活性剂或聚合物的结构、疏水性以及电荷等的关系，认识其作用规律，对于表面活性剂—聚合物体系的应用具有重要的指导意义。　　 本文通过利用表面张力法、电导率法、表观粘度法、荧光光谱法等手段研究了12-2-12与HMPAM和HMCPAM形成的复合体系。结果发现：复合体系与12-2-12水溶液体系相比，在CSAA＜CMC时，复合体系的表面张力具有升高的趋势，且复合体系的表面张力随着聚合物含量的增大升高的趋势越明显；在CSAA＞CMC时，复合体系的电导率具有下降的趋势，且复合体系的电导率随着聚合物含量的增大下降的趋势越明显。　　 HMPAM和HMCPAM溶液表观粘度随表面活性剂浓度增高，先上升，再下降，并且这种特殊规律与疏水基团的存在有关。同时，实验证实，疏水相互作用存在于各种表面活性剂与HAWSP的相互作用中，而表面活性剂电荷与聚合物疏水基团电荷的静电相互作用使两者的相互影响规律变得复杂。　　 利用荧光光谱发现PAM和CPAM在溶液中不能形成疏水微区，而HMPAM和HMCPAM与表面活性剂形成的复合体系即使浓度非常低，也会通过分子链上的疏水基团相互缔合而形成疏水微区，并且表面活性剂浓度越高形成疏水微区的数量就越大。　　 总之，本论文通过实验证实了12-2-12与HMPAM之间只存在疏水相互作用，而12-2-12与HMCPAM之间不但存在疏水相互作用，而且还存在静电相互作用，对比之下，DTAB与上述两种聚合物之间的相互作用要弱的多；同时证实了12-2-12和DTAB与PAM之间不存在相互作用，而12-2-12和DTAB与CPAM之间只存在静电相互作用。