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界面电荷及陷阱电荷影响有机电致磷光器件(PhOLEDs)载流子的注入,从而影响器件性能,而其对掺杂体系的发光衰减动态过程的影响鲜有研究。本文从有机电致磷光的器件结构出发,利用瞬态电致发光测量方法研究掺杂体系发光层内的界面电荷和陷阱电荷对瞬态发光衰减行为的影响,分析实验中出现的发光现象,研究和分析重要物理过程及其机理。(1)有机界面能级势垒阻碍载流子的注入,同时也引起界面内载流子的积累。首先分别研究了空穴传输层和空穴阻挡层对发光瞬态衰减过程的影响,实验发现功能层材料的选择对瞬态发光衰减影响大。实验发现,驱动电压截止后,发光层内电子积累多的器件容易观察到瞬时过冲峰。施加第二个turn-off电压研究发光小峰时发现发光小峰来自发光层内积累电荷及陷阱电荷的再复合过程。此外,旋涂法成膜质量不及蒸镀法致密,有机层界面缺陷导致陷阱电荷多,引起发光衰减的长拖尾。(2)为进一步研究和分析发光衰减瞬时过冲现象的物理过程,研究发光层内客体引起的电荷俘获及积累对有机电致磷光发光衰减的影响,研究了发光瞬时过冲的激子复合和发光机理受主体材料和客体掺杂浓度的影响。不同主客体掺杂的瞬态电致发光衰减研究中发现,只在电子传输型的TAZ:Ir(ppy)3器件观察到发光衰减瞬时过冲现象。分析掺杂器件TAZ:Ir(ppy)3的瞬时过冲强度与主体材料以及掺杂浓度的依赖关系,进一步发现,瞬时过冲强度主要受限于发光层内部积累的电子载流子;TAZ:Ir(ppy)3发光层内电子容易被客体材料分子俘获并积累,电场突变时陷阱电子容易跳跃到主体材料上并与主体材料上积累的空穴形成激子,激子能量传递到客体材料上并复合发光继而出现发光强度的瞬时过冲现象。(3)界面电荷形成的电场阻碍载流子的注入与传输,是引起效率下降的重要因素。瞬态电流响应可给出界面电荷及空间电荷放电过程的信息,我们通过瞬态电流测量方法研究了磷光掺杂体的界面电荷。脉冲电压激发下的瞬态电流曲线可分成三部分,正向电流尖峰Ip,稳态电流Is,反向电流尖峰In。实验发现稳态电流Is即为流经器件的工作电流。反向电流尖峰In对应于空间电荷的放电过程,In随着驱动电压幅值的增大趋于饱和。电流尖峰受载流子注入势垒的影响大,与器件内部结构无关。瞬态电流响应为研究有机电致发光的电容效应提供了方法和思路。