电致发光技术对于照明显示的应用领域具有重要的意义,成为当前发光领域的热点。同时,发光衰减是发光的重要过程,测量发光寿命对研究发光机理十分重要。因此,研究电致发光的发光衰减过程,测量电致发光器件的发光寿命,对于解决电致发光和发光衰减两方面的科学难题都十分重要。本文主要总结了发光衰减的传统研究存在的缺陷。针对这些问题,搭建了一套电致发光衰减测量系统,以及进行了该系统的初步应用。本论文分5章：第一章主要阐述了电致发光和发光衰减的发展现状；第二章主要介绍了电致发光的基础理论；第三章重点分析了发光衰减传统研究工作的缺陷,并针对这些缺陷搭建了一套电致发光衰减测量系统,介绍了该系统的原理、方法和仪器设备；第四章利用该系统实际测量和研究了LED的发光寿命：第五章是结论。在论文中我们总结了传统研究在概念和方法上存在的三个缺陷：1)概念上,没有区分发光衰减与激发态数目两个不同的概念,偏离发光的本质。2)原理上,基于激发态规律推导衰减规律时,假设的边界条件没有实验的支持。3)应用上,测量发光寿命所需要的设备昂贵,局限性强,而且忽视离外界环境对寿命的影响。为了解决以上的问题,我们搭建了一套创新性的电致发光衰减测量系统,整个系统包含概念,原理,技术手段,设备搭建等方面,并成功测量并研究分析了LED的发光寿命。(1)严谨地定义了发光寿命是激发停止时发光强度下降至零的全部时间,既不是激发态数目的减少,也不是发光强度下降至1/τ经过的时间。(2)基于能量转换的原理,采用周期激发的方式,通过脉冲间隔时间与发光衰减时间的比较,间接地测量出发光寿命。该原理和方法从实验出发,简洁又可靠,是创新性的设计。(3)基于上述概念和原理,我们搭建了一套电致发光衰减测量设备,成功地测量出LED的发光寿命,并发现了不同初始发光强度与发光寿命存在正相关的关系,证明了发光寿命并不只与发光材料有关,也受到外界环境的影响。