低频1/f噪声在半导体激光器可靠性中的应用

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本文首先半导体激光器进行了概括的介绍,论述了对半导体激光器的可靠性研究的重要意义,然后对半导体激光器的各种噪声产生和作用的机理做了详细的论述,总结了噪声测量的几种方法,又对半导体激光器的失效模式和退化机制从结构上给出了说明,在此基础上开展了噪声测量和器件质量表征和可靠性评估方面的实验研究工作。本论文实验工作如下:(1)首先通过光、电检测(IdV/dI-I、P-I、V-I检测)分析两个器件的工作状态、失效机制,从而建立了表面非复合辐射电流、有源区缺陷形成COD和电流泄露之间的相关性,并初步判断出器件的质量性能。(2)对器件进行噪声特性的测试研究,对测量的噪声数据从器件的结构和内部机制上予以说明,建立低频噪声(1/f噪声)和器件可靠性之间的联系,并得出可以作为半导体激光器可靠性表征的一种新方法:低频1/f噪声的幅值的峰BV右侧坡下降的快慢可表征出器件的可靠性,同时指出峰右侧谷底的位置也可能是器件可靠性的判据。实验表明小注入下电压噪声峰两侧噪声规律对研究p-n结器件可靠性有很重要意义。Keywords: semiconductor laser、reliability、low frequency 1/f noise
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