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超深亚微米工艺SoC技术是国际超大规模集成电路发展的趋势和二十一世纪集成电路技术的主流。SoC具备的优点有:电子设备高速化、小型化、高集成化、高可靠性、高安全性和低功耗。这些优点对于密码装备非常有用，尤其安全性高的特点更适合密码装备的性质。由此可见芯片级密码系统是我军密码装备发展的必然方向。
通过开展该课题研究，分析当前CSoC设计和测试技术，针对CSoC测试主流技术，寻找适合密码芯片的测试方法。
本文主要从CSoC可测性设计和CSoC测试技术两个方面，对CSoC测试技术进行了深入研究，主要研究如下:
1、在分析已有的几种CSoC测试方法基础上，提出了一种新的基于ITS9000MX测试系统的测试通道复用和F2数据格式的测试方法。
2、研制了一个在ITS9000MX测试系统上使用的序列密码芯片测试平台，构建CSoC芯片的典型应用环境，完成了对序列CSoC芯片产生乱数的功能测试、高速性能测试和部分电气参数的测试。
3、为了构建序列CSoC芯片的硬件测试平台，设计开发了对ITS9000MX测试系统作全面的校准和设计专用的测试适配器。
4、为满足CSoC芯片的调试需要，专门设计了内部和外部两种时钟驱动方式，分别由测试系统和外部晶振提供。该时钟电路由两个时钟芯片构成，分别为CSoC芯片的SYS_CLK和CLK管脚提供时钟信号。
5、实现了基于ITS9000MX测试系统的序列CSoC芯片测试验证流程的设计与工程实验，在ITS9000MX测试系统上进行测试。
本文所设计的CSoC测试方案在较大程度上解决了当前CSoC测试所面临的困难，管脚增加较少、面积开销较小等优点，有效地降低了芯片测试成本。测试结果验证了序列CSoC芯片功能的正确性，以及对CSoC芯片部分性能参数的评估，确保CSoC芯片设计正确性。