本文研究了用近场扫描技术测量超低旁瓣天线时，几种主要误差源对天线性能指标的影响及相应的补偿方法。 本文首先对近场测量技术的背景和现状进行介绍，给出了近场扫描的基础理论和相关知识，然后建立了超低旁瓣天线旁瓣测量总误差与待测天线参数、近场幅相测量总误差的数学模型并分析了随机幅相误差产生的误差谱表达式；给出了有限扫描面截断所导致的测量误差、天线与探头间的多次反射所导致的测量误差、微波暗室不理想的电特性所导致的测量误差对天线远场方向图所引入的误差上界；首次采用较少的天线阵模型将随机幅相误差、有限扫描面截断误差对超低旁瓣天线远场方向图旁瓣影响程度的数量级进行了计算机仿真，取得了良好的效果，从而验证了基于近远场变换理论的误差分析方法具有一定的普遍适用意义；最后，从时域和频域两个角度提出了减少这些误差源所引入测量误差的方法，并对修正随机幅相误差的“平均法”及补偿有限扫描面截断误差的扩大扫描面的方法进行了计算机模拟验证，证明它们是修正近场测量误差的较为有效的方法。