随着CMOS工艺的不断发展，传统熔丝工艺与其不兼容性成为制约集成电路发展的重要问题之一，新兴的电可编程熔丝（Electronically Programmable Fuse）技术因其与CMOS工艺的兼容性、执行冗余以及封装后可编程的优势，而获得广泛的关注与研究。本文详细介绍电可编程熔丝的工作原理，并分析影响其性能和可靠性的相关因素；设计了一款具有ECC功能、出现“坏点”可替换的熔丝电路；并在此基础上对整体电路及核心模块进行仿真验证；最后基于中芯国际65nm标准CMOS工艺进行版图设计和流片测试。流片之后，主要对电路进行可靠性和功能实现两个主要方面进行测试，其中可靠性测试包括温度周期（Temperature Cycling）测试、高温存储（High TemperatureStorage）测试以及高加速下应力（Highly Accelerated Stress Test）测试三方面。测试结果表明，本文所研制的熔丝电路的功能达到设计目标。