目前,系统芯片(System On Chip,SOC)的验证工作平均要占整个芯片开发工作量的70%,是SOC设计和实现的主要技术之一。此外,随着电路规模发展到超大规模集成电路(Very Large Scale Integration,VLSI),硬件模型必然变得更加复杂并且计算量也大大增加。因此,简单地使用软件模拟进行功能验证已经不能满足SOC验证的需要。SOC设计亟需一种更加有效的验证方法,硬件加速验证技术应运而成。硬件加速验证技术是一种用硬件模拟器验证设计的方法和手段,它通过将要验证的设计映射到处理器阵列或现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)上,然后对这样一个等效系统进行验证。对于LTE系统,我们会从算法级和系统级两方面进行充分的验证。算法级验证主要是LTE物理层的仿真,而系统级验证是检测LTE模块在基带芯片中的功能是否正确,会包括时序、电源等的仿真。根据以往项目经验,这些工作运用软件仿真的方法来完成,但是效率很低。而硬件加速验证方法可以使用更高的时钟频率,大致为2MHz,软件仿真则平均保持为1KHz,它的速度相比软件仿真有着质的提升。随着验证工作的深入,进展到验证阶段的中后期时,验证用例的数量越来越多,而且验证用例的复杂度也在不断增加,设计也在不停的迭代,此时需要回归测试的工作。回归测试的自动化有助于确保项目质量,并减少繁琐任务的工作量。针对本组在LTE模块验证工作中面临的障碍,在充分分析了硬件加速验证平台的基础上,创新性的结合了自动化设计思想,以不改变测试用例结构为前提,采用软件编程语言编写脚本来实现硬件加速验证平台的测试,并且对该测试流程的效率进行了优化设计。本文针对架构不同的算法级和系统级测试用例,运用编程语言(Python、Perl、Shell、Matlab等)开发了分别适用的自动化流程,最终实现了一种简洁高效、复用性强的硬件加速测试方法和流程。而且实践表明,和软件仿真相比,速度提升了近20倍,并且仅需要几分钟即可自动化生成10324行的验证文件代码,减少了人力投入,提高工作效率的同时更加避免了由于人为因素而导致的错误,增加了流程的稳定准确性。