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液晶作为一种应用广泛的特殊功能性材料,它既具有液体的流动性、粘滞性,又具有晶体的各项异性。在液晶的众多特性中,液晶电控双折射效应是非常重要的一个特征。液晶类器件的快速发展使自适应光学、空间光通讯等系统的小型化、低成本化成为可能。而相位调制准确性是其有效应用的关键,但受限于测量方法的限制,液晶器件的相位调制性能很难准确测量与标定。液晶光栅相位检测技术是目前国内外研究的一个难点,本论文针对现有液晶光栅相位检测抗干扰能力差、检测通用性不强及相位恢复算法复杂等不足,提出了一种新的液晶光栅相位测量方法。鉴于液