现代科学向着高频、高速、高灵敏度、高安装密度和高可靠性方向发展,而随着社会的发展和进步,各种电器设备已经渗入工业、农业、军事和家庭等各个领域,电磁环境日益复杂,使得人类居住的环境日益恶化。目前的电磁兼容问题分析方法都只能从理论和建模方面分析辐射问题,而无法判定噪声源,且其理论结果与实际有着一定的误差,因此复杂电子设备电磁辐射噪声源的识别和诊断成为了EMI故障分析中最大的挑战。针对上述问题,本文研究了“基于ICA和STFFT算法的辐射EMI噪声分析与诊断方法”,具体包含以下内容：(1)从基础理论出发,对复杂电子设备的辐射机理进行分析,提出了一种系统的、全面的、快速的多辐射源溯源方法。(2)研究复杂电子设备多辐射源的筛选方法和定位方法。将独立分量分析算法应用于多辐射源辐射噪声分析,将混合的辐射电磁干扰噪声信号分离成若干个独立的噪声信号,作为辐射噪声超标源头的备选信号。将时频分析方法应用于多辐射源辐射噪声研究,对分离后的独立辐射电磁干扰噪声信号进行时频分析,提取出各信号的时频特征,从而诊断出引起辐射超标的主要原因。(3)通过三组验证实验,分别将该方法应用于双共模模型、双差模模型和共差模混合模型中,成功将混合辐射噪声信号分离并且找出辐射超标的原因,验证了该筛选定位方法的可行性。最后两个实际的复杂电子产品案例分析,验证了该方法的有效性,成功找出了辐射超标的原因,并且采取了相应的整改措施,使得产品通过标准测试。理论分析与实验结果表明,本课题提出的方法能够应用于复杂电子设备的多辐射源溯源研究,可以准确快速地定位辐射源,采取相应的整改措施,对今后的辐射电磁干扰研究和工程人员的整改研究有着重要的参考和借鉴意义。