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本研究主要采用事件相关电位技术(Event-related potential, ERP)和眼动追踪技术(Eye-tracking technique),通过评定标准化的考试焦虑图片库和词汇库,以考试相关及无关威胁词汇或图片作为刺激材料,探讨了在点探测任务中刺激的呈现时间及威胁水平对高、低考试焦虑个体注意偏向的影响。主要的结果和结论如下:1.阈上200ms刺激呈现时,在行为水平上,高考试焦虑个体对考试相关威胁刺激存在注意偏向,而低考试焦虑个体则对考试相关刺激存在注意回避;在脑电水平上,高考试焦虑组在考试无关威胁词线索琐时N1波幅增强以及考试相关威胁词异侧探测时的靶琐时N200波幅增强和LPP波幅减弱,而低考试焦虑组的考试相关威胁词异侧探测时的靶琐时N200波幅减弱。2.阈下50ms刺激呈现时,与低考试焦虑相比,在行为水平上,高考试焦虑个体对考试相关低威胁刺激产生注意易化趋势,并对考试相关高威胁刺激脱离易化;在脑电水平上,高考试焦虑个体线索诱发的Cl波幅、N1峰值以及靶刺激诱发的N1波幅和峰值、P1波幅增强。3.阈上500ms刺激呈现时,与低考试焦虑相比,在行为水平上,高考试焦虑个体对考试相关的高、低威胁刺激均产生注意回避及脱离困难:在脑电水平上,高考试焦虑个体线索诱发的N1峰值以及靶刺激诱发的N1峰值、P1波幅升高。4.在刺激呈现时间3000ms时,与低考试焦虑相比,高考试焦虑个体对考试相关低威胁刺激存在注意易化,对考试相关高威胁刺激注意回避;随着认知负荷的增加,高考试焦虑个体对呈现时间为3000ms的考试相关威胁刺激脱离困难。5.高考试焦虑个体对考试相关威胁刺激注意偏向呈现动态变化特征,对考试相关威胁刺激注意偏向出现在早期的前注意加工阶段,并在后期的策略加工阶段对威胁刺激注意保持或回避。威胁水平和认知负荷也会调节考试焦虑者对考试相关威胁刺激注意偏向成分。对本研究存在的局限、本研究结果及应用进行了深入讨论,且对于未来研究工作及研究方向,提供具体建议。