基于面阵CCD的颗粒物料缺陷检测系统

来源 :哈尔滨理工大学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yuzheng80927
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表面缺陷是影响产品质量的重要因素之一,随着科技的飞速发展,人们对材料质量的要求也越来越高,因此各行各业都对检测技术提出了新的要求。图像检测技术的出现为材料的缺陷检测提供了一个很好的手段。在目前的多种检测手段当中,由于CCD器件自身所具有的轻便、高精度等优点,特别是随着CCD器件扫描速度的提高,使得基于CCD成像的检测方法成为当前研究工作的主流。本文以电缆料颗粒为被检测对象。电缆绝缘中的杂质颗粒是导致电缆绝缘早期被破坏的重要原因,它限制了电缆使用的可靠性和寿命,也限制了电缆行业向更高电压等级的发展。电缆绝缘中杂质颗粒的尺寸和含量成了评定电缆性能的重要参数,因此如何方便、实时、准确地检测杂质颗粒的尺寸和数目,成为人们关注的技术问题。基于以上分析,本文主要是将图像检测技术在电缆料颗粒的缺陷检测方面进行应用探索。按照项目要求,本系统以面阵CCD作为基础器件,设计完成了适合该检测的光电检测模块,搭建了有效可行的数据采集传输体系,为后续的数据处理分析提供了良好的平台。图像采集系统通过IEEE1394工业用总线实现与计算机的接口,在上位机系统中采用面向对象、模块化编程等技术完成上层软件的开发,并针对检测对象所具有的特征研究了合适的算法,完成后续图像处理,系统软件给出缺陷检测结果以及一些必要的统计。面阵CCD成像的高性能,数据传输的高速率,以及上层软件采用的面向对象、模块化编程技术,保证了系统在硬件和软件上的可扩展性,使该系统可以很好的满足电缆料颗粒杂质的在线实时检测要求。
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