信息产业革命在推动国民经济发展和进步中所占的地位越来越重要,作为其核心的微处理器(Microprocessor)的发展已受到国际学术界和工业界的广泛关注。微处理器的发展直接导致了其内部电路规模不断增大和结构的日趋复杂,同时制成也从2002年初的90纳米发展到现今45纳米。这使得传统的测试方法已经不能满足微处理器电路测试的需要,众多可测试设计被广为应用,新的测试方法不断涌现。本论文研究的对象,就是一种新的,结合产品的软、硬件设计的低成本、高有效性的微处理器测试方法。主要研究内容是根据已有的45纳米微处理器设计特性,提出新的产品测试方法。主要研究内容如下:1)微处理器的发展背景、芯片基本构造、基本工作原理以及相关工艺流程;2)研究边界扫描测试方法在故障定位中的问题及其解决方案;3)提出高速缓存的测试方法和提高良品率的解决方案;4)提出双核微处理器测试解决方案。