随着无线通信技术的高速发展,功率放大器等大功率器件在无线通信发射系统中占据着越来越重要的地位。功率放大器在现代无线发射系统中已经不再只具有单一的信号功率放大功能,同时具有控制、检测和保护等多重作用。众多功能的依托是电子设备良好的电磁兼容性能,因此,功率放大器等大功率器件的电磁兼容性设计就成为了无线发射系统中一个至关重要的问题。而电磁兼容性能的评定在电子设备设计中又占据着举足轻重的地位。目前,在电磁兼容性能测试实验中,常用的抗扰度测试场地是开阔场或暗室。然而开阔场容易受到天气、场地等因素影响,具有不可控性;微波暗室又成本高昂。近年来,TEM小室由于其优势被广泛应用于电磁兼容测试领域。因此,本文搭建了一套基于TEM小室的抗扰度测试系统,不仅能有效地对测试成本进行控制,而且能快速、简便地对电子器件的抗扰度进行评定。首先,本文介绍了电磁兼容测试的研究背景,以及常用的抗扰度测试场地和优劣势分析。然后选择基于TEM小室作为测试场地来进行被测件的抗扰度性能测试,根据实际需求,本实验设计实现了可应用于DC~3GHz频段的抗扰度测试系统,整个系统包含了功率放大器、定向耦合器、功率计、手持式矢量网络分析仪等实验设备。为保证测试系统的实用性和稳定性、满足测试环境的均匀性,对TEM小室进行了场分布分析以及S参数等仿真实验,接着,从机械设计、工艺制作等方面对TEM小室进行研制。最后,利用实现的测试系统对有源器件以及无源器件进行抗扰度实验测试,给出了相关测试步骤与注意事项,并对测试结果进行分析。与其它测试系统相比,本文所设计的抗扰度测试系统有以下优势:第一,考虑到实际应用时被测件的测试频率不同以及被测件的尺寸大小不同,本文共设计了两个TEM小室,一个频带为DC~1GHz,另外一个频带为1~3GHz,驻波系数小于等于1.4,场均匀度在?3dB以内。另外,在TEM小室的研制上,屏蔽门主要采用的是内嵌结构,提高了TEM小室的性能。第二,本文搭建的基于TEM小室的抗扰度测试系统测试频带相对较宽,整个系统易于搭建和拆卸,同时成本可控,需要的实验场地占地面积较小,不受环境因素的影响等。第三,本文主要利用低噪声功率放大器等仪器来代替复杂的射频系统,使得整个实验过程简便快速,易操作。