随着集成电路的制造工艺和计算机辅助设计（EDA）工具的发展，集成电路在集成度和性能方面不断提高。目前专用集成电路的规模已经达到亿门级，并且这种规模还在不断提高，这使得验证工作的复杂度迅速提高。验证工作已经成为芯片设计流程中的瓶颈。GST（GSM Sleep Timer）模块是基带芯片中一个比较重要的控制模块，主要用来控制基带芯片的休眠与唤醒，以达到节省功耗的目的。GST模块功能的正确性和精度直接决定着手机的功耗和通信质量，故对GST模块的验证工作在整个基带芯片的验证工作中显得尤为重要，GST模块设计中的缺陷必须被验证出来。基于此，本文介绍了基于直接测试和基于UVM随机测试两种验证方法，详细阐述了这两种验证方法的具体实现方案和验证策略，并最终给出了两套验证环境对GST模块的仿真和验证结果。同时比较了两套验证环境的优缺点及各自应用场合。