集成电路（Integrated Circuit,IC）是一种微型的电子器件或部件,在现代电子设备中具有不可替代的重要作用。随着电子设计技术的快速发展,IC以极高的频率不断进行着迭代升级,作为集成电路产业重要组成部分的IC测试技术的发展同样被集成电路设计与制造企业寄予越来越高的期望,IC测试技术的高速发展可使芯片的质量与性能得到更大程度上的保证。传统的IC测试方法具有非常明显的局限性,已不能满足大规模、高集成度及多功能芯片性能测试的需要。目前市场上芯片的种类繁多、封装各异,且测试需求各有不同,少有测试系统能够满足具有特定功能的定制化专用芯片的所有需求,因此研制针对定制化专用芯片的自动测试系统具有较高的应用价值和经济效益。论文针对定制化专用芯片SCM610,设计一套芯片可视化自动测试系统,以实现对芯片功耗、GPIO管脚输入、输出特性、中断触发、工作电压等功能及电气特性的测量。系统能对测量数据自动进行处理,并生成相应的测试报告。经实际测试表明,论文针对指定芯片SCM610研制的自动测试系统能够满足实际环境下对该芯片批量测试的需求。论文所做的主要工作有以下方面:（1）在对目前常用的IC自动测试技术进行概述及系统需求分析的基础上,结合实际项目需求,确定了以Modbus通信协议为数据传输方式的上、下位机协作工作模式,完成了系统总体方案的设计,并对其进行了可行性分析。（2）在Modbus标准协议的基础上,根据系统实际需要,定制了适合于系统上、下位机间通信的Modbus信息帧结构。（3）基于总体设计方案,对系统所需软件环境、硬件平台进行选型,完成了自动测试系统的软硬件设计,并搭建了一套完整的定制化专用芯片测试系统。（4）对研制系统的测试功能与差错处理机制进行验证。