AFM(原子力显微镜Atomic Force Microscope)作为一种表征纳米尺度材料和器件的重要仪器,在纳米材料和器件的研究中有着广泛的应用。本论文就使用CNT(碳纳米管,Carbon Nanotube)制作的AFM针尖的性能,以及利用基于AFM的SGM(扫描门控显微镜Scanning Gate Microscope)表征碳纳米管器件方面做了一些深入的研究。本论文的主要研究成果如下:　　1:通过在SEM(扫描电子显微镜Scanning Electron Microscope)中的纳米操纵平台,将CNT转移到AFM的tapping-mode(轻敲模式)针尖上并加以固定,并使用纳米刀控制碳管针尖的长度。对于制作出的CNT针尖,通过实验研究了随着CNT长度的改变针尖振幅曲线的变化,并对比相关的理论加以分析,获得了CNq、针尖碳管的长度与其振幅曲线之间的变化关系。　　2:纳米器件中Sc电极和Pd电极都可和CNT形成欧姆接触。本论文中,利用基于AFM仪器的SGM方法研究了Sc-Pd不对称电极CNT器件的SGM疏运输运调控效应。SGM图像结果直观地表现出金属电极同CNT之间的不同接触情况,有些可以归结为欧姆接触,另外一些显示出Sc电极附近局域增强的SGM图像,说明存在接触势垒。利用能带理论分析了实验结果。这些结果提供了一种利用SGM技术无损检测纳米器件接触特性的方法。