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本文提出了一种用于测量激光波长的新方法，研制成功了一套用于激光侦察中光谱识别的测量系统。本论文提出的新方法是利用InGaAs、Si两种光电探测器的不同光谱响应特性和信号处理技术，综合测定入射激光波长的方法。论文中给出了此测量方法的理论分析，并且根据这一理论，建立了光谱识别实验系统。这一实验系统由光学装置、波长测量系统和光电二极管温度控制系统组成。其中，光学系统提供了入射到探测器光敏面上的范围可以在400～1800nm的单色光；波长测量系统对光电探测器所产生的光电流进行采样和计算，得到入射激光的波长；针对光电二极管的暗电流受温度变化影响大这一问题，设计了温度控制系统保持探测器的温度恒定，保证了光谱识别的准确性和可靠性。整个光谱识别实验系统采用微机控制，具有良好的界面，操作简单方便。利用这一实验系统，完成了500～1100nm波段的光谱识别。