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数控机床综合精度评定方法的研究
【机 构】
:
北京理工大学
【出 处】
:
北京理工大学
【发表日期】
:
1994年期
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消色差长焦深光学元件可实现三维区域清晰成像,在空间遥感、激光直写、显微成像等领域有重要的应用价值。随着光电探测器件分辨能力的不断提高,要求光学系统同时实现高分辨率和