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在当今电子设备中,电连接器是电信号传输的关键元器件。随着信息时代的来临,电连接器的可靠性要求也越来越高,因此有必要对降低可靠性的电连接器失效现象进行深入研究。本文以USB3.0电连接器为对象,分析了在使用过程中的电热耦合效应和接触失效机理,以便于进一步提高电连接器的可靠性。本文的主要内容包括:首先是分析多物理场耦合现象,基于电热耦合机理,采用有限元方法建立电场激励模型和热场传热模型,进行非线性耦合得到相对准确的电热耦合数学模型,描述电磁场对温度场的瞬态和稳态影响。采用电接触基本原理,对于电连接器的接