太赫兹波(terahertz, THz)是一种新的、有很多独特优点的辐射源,因为物质的太赫兹光谱通常包含着非常丰富的物理和化学信息,所以近年来,太赫兹技术正逐渐引起人们广泛的关注,并有着突飞猛进的发展。太赫兹成像技术是太赫兹应用的一个重要领域,这个领域正在快速发展,已经有大量的成像技术产生。然而,大部分太赫兹成像技术只探测了一个太赫兹电场矢量分量,就简单的将信号的损失归因于样品的吸收和散射,而使所得到的图像并不能确切地反映物体信息。其实样品的双折射效应,或偏振特性的改变,也可能改变THz电场方向,从而引起信号的减弱。所以,太赫兹的偏振态,以及样品所引起的偏振态的改变是在太赫兹成像分析中不得不考虑的一个问题。本文研究了太赫兹偏振态的特性、晶体的偏振探测方法及由于偏振所引起的图像处理问题。主要结果如下:1、通过分析得到了探测晶体对不同偏振态的探测特性和方法,并实验验证了系统产生的太赫兹偏振态。本文分别分析了<110>和<111>ZnTe晶体在探测太赫兹波时的探测原理和特性,并找出了有效的测量太赫兹电场两个正交矢量的探测方法。这为下一步的成像奠定了理论基础和方法指导。2、通过对样品在太赫兹电场两个正交方向分量的分别成像,分析由样品引起的太赫兹电场偏振方向的改变。分别用<110>和<111>晶体进行成像,分析两种晶体的成像效果。通过实验发现,样品的边缘处更容易对电场的偏振方向进行改变。3、引入琼斯矩阵参量对偏振的改变进行描述,并提出了利用琼斯矩阵参数成像并分析图像的方法。