【摘 要】
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该文的目的在于从微观上阐明条纹放电的机理,揭示条纹现象与电子温度、浓度和汞激发态浓度之间关系,并为找出抑制条纹发生的措施提供理论依据.首先,在实验方面,测定了亮条纹
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该文的目的在于从微观上阐明条纹放电的机理,揭示条纹现象与电子温度、浓度和汞激发态浓度之间关系,并为找出抑制条纹发生的措施提供理论依据.首先,在实验方面,测定了亮条纹和暗条纹处可见谱线的强度.然后在Waymouth的Ar-Hg放电模型的基础上建立了低气压Ar-Kr-Hg放电正柱的八能级模型,(包括6<1>S<,0>,6<3>P<,0>,6<3>P<,1>,6<3>P<,2>,6<1>P<,1>,7<3>S<,1>6<3>D和电离态),由求解速率方程组得到了条纹的亮暗区中各种粒子的浓度和电子温度,从而求得汞可见谱线的强度,与实验测量结果比较两者符合得较好.
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