芯片接口测试方法的研究和测试平台的建立是集成电路封装测试的重要组成部分，对芯片接口高效、全面、人性化的验证有重要意义。本文主要研究Altera现场可编程门阵列（FPGA）时序约束和时序分析方法及芯片接口测试方法。在芯片测试平台中，接口时钟引脚均与FPGA的普通I/O引脚相连，但FPGA不能自动识别连接其普通I/O引脚的信号是否为时钟信号，导致经过FPGA的数据不能在FPGA内部正确采样，进而使得外部芯片不能正确采样。本文针对这一关键性问题，提出了千兆媒质无关接口（GMII）、源同步串行介质无关接口（S3MII）、简化千兆媒质无关接口（RGMII）的时序约束方法。时序分析结果和测试结果表明，特定时序约束方法能够保证FPGA正确采样数据，从而保证外部芯片工作正常，最终达到为芯片接口测试提供有效稳定平台的目标。在芯片测试平台稳定有效的基础上，搭建了测试组网，并针对接口结构和协议，提出了不同的接口测试方法，如接口时钟裕度测试方法、接口时钟应力测试方法、接口时序异常测试方法及接口控制信号测试方法。以太网发包器收发报文研究结果、测试软件显示的待测芯片收发报文分析结果及示波器显示的测试结果表明，这些接口验证方法的提出和研究提高了芯片验证的覆盖率和接口验证的效率，对芯片接口的验证有重要意义。