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文章通过分析比较目前流行的多种生产控制模式,基于半导体封装测试生产线的复杂流程,对看板系统进行了优化改进,并设计出定量库存/拉动看板系统作为试验模式。该系统采用了整体定量库存控制和局部拉动看板控制的方法,结合生产线的实际瓶颈状况,就如何有效地进行生产控制问题展开研究,并在降低库存、生产周期、场地占用等方面取得较为理想的结果。