静态随机存储(SRAM)型现场可编程逻辑门阵列(FPGA)工作在辐射环境时会产生单粒子翻转，采用加固方式可以修复或减缓这些现象导致的影响。高可靠性的反熔丝型FPGA作为监控单元，通过两种方式检测FPGA的工作过程。采用硬件实现BCH(31，21)码编码和译码，检测FPGA运行过程中部分关键变量是否出错并进行纠错；采用回读校验方式判断SRAM型FPGA的配置存储单元是否出错，通过部分重配置刷新方式，可修复高能粒子引起的软错误。　　 针对并行BCH译码器的特点，采用异或门实现有限域上常系数乘法，从而降低硬件复杂度。先计算6个错误位置多项式，再根据仿射多项式和格雷码理论，进行简单的逻辑运算得到余下的25个错误位置多项式，从而减少系统所占用的资源。在ISE软件上进行时序仿真，验证了该算法时间和空间的高效性。FPGA的配置文件中包含了配置寄存器的设置命令，ISE软件生成的与回读操作相关的MSK文件中包含了回读操作的相关命令，此文件也可用于校验回读数据。用Visual C++编写界面程序，CPLD与计算机并口连接，实现FPGA完整配置、部分重配置、回读数据和校验回读文件。　　 利用已公布的测试数据，建立系统的可靠性数学模型，分析选择不同刷新间隔时间时加固系统的可靠性。