X射线数字成像中的缺陷定位检测技术研究

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射线检测是无损检测中的一种重要方法,在射线检测中,缺陷的定位一直是个重要的环节。缺陷定位的方法主要有黑度法、体视法、工业CT及视差法等,其中视差法相对于其它几种方法,以其操作简便、适用范围广而得到了普遍应用。但是,视差法存在着精度不高的缺陷,目前还没有对影响视差法定位精度的因素进行系统分析的研究,并且当前大部分的视差法实现都采用传统的胶片成像,检测效率较低。同时,视差法给出的只是缺陷深度方面的信息,对于缺陷的三维定位信息无法明确的反映。为此,本课题首先通过射线数字成像来实现视差法,并且详细分析了视差
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