目的:探讨亚低温治疗新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)疗效及相关影响因素,为临床早期评估预后、早期积极干预治疗、降低脑损伤程度,改善HIE患儿短期预后提供帮助。方法:收集自2012年1月1日-2019年12月31日于重庆医科大学附属儿童医院新生儿中心NICU住院治疗,进行亚低温治疗的HIE患儿临床资料,并对患儿进行随访,随访时间为截止到生后14天,未出院患儿住院评估,已出院患儿专人电话通知家长携患儿门诊随访、完善相关检查、全面评估或电话随访患儿出院后就诊、疾病进展、检查资料等。根据随访结局分成预后良好组和预后不良组,采用单因素分析及多因素logistic回归分析,探讨亚低温治疗HIE的短期神经结局及其相关影响因素。结果:本研究共收集符合研究纳入标准患儿109例,成功随访100例,失访9例(失访率8.25%)。在成功随访100例患儿中,预后良好42例(42%),预后不良58例(58%)。预后不良组包括死亡10例(17.24%),NBNA评分低于30分者30例(51.72%),中重度aEEG异常者36例(62.06%),其中最常见为电惊厥发作30例(51.72%),爆发抑制有6例(10.34%),电静止1例(1.72%);中重度头颅影像学异常者24例(41.38%),其中基底节、丘脑异常占14例(24.18%),弥漫性脑损伤8例(13.80%),脑出血16例(27.59%)(出血部位以蛛网膜下腔及顶枕叶多见),脑水肿20例(34.48%)。绝大部分患儿有两种异常,其中NBNA+aEEG有18例(31.03%),NBNA+头颅影像学异常17例(29.31%),aEEG+头颅影像学异常13例(22.41%)。通过对两组患儿短期神经发育预后相关影响因素进行单因素分析表明Apgar评分(1min、5min、10min)、生后气管插管、生后有惊厥、生后使用抗癫痫药物、胎膜早破、BE值降低、高血糖(血糖≧7.0mmol/L)、低血糖(血糖≦2.2mmol/L)等对HIE患儿短期预后影响均有统计学意义;但进一步的Logistic回归分析,未能发现亚低温治疗HIE患儿短期预后不良的独立危险因素。结论:亚低温治疗HIE短期预后不良发率为58%,最常见为aEEG中重度异常,占36%,死亡率约10%。Apgar评分(1min、5min、10min)、生后气管插管、生后有惊厥、生后使用抗癫痫药物、胎膜早破、BE值降低、高血糖(血糖≧7.0mmol/L)、低血糖(血糖≦2.2mmol/L)均为影响新生儿HIE短期预后不良的高危因素,临床上应予高度重视,给予早期干预。新生儿HIE不良预后发生率高,严重影响患儿生活质量,给家庭及社会带来沉重负担,临床应早期发现、早期干预、规范治疗、定期随访。