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随着集成电路设计技术的发展,其相应的测试也变得十分重要。测试生成为测试过程中的一个重要环节。本文首先综述了当前基于集成电路寄存器传输级(Register Transfer Level,简称RTL)的测试生成方法和验证方法。在此基础上给出作者所提出的RTL测试生成方法,同时考虑到当前RTL测试生成的困难在于缺少有效的故障模型,本文还给出了RTL故障模型分析方法。本文工作主要体现在以下三个方面:1.兼顾RTL代码内部分枝的状态测试生成。本文在状态覆盖的基础上,给出一种虚扩展状态转换的方法,该方法将状态转换同其内部分枝有效的结合在一起。在此基础上再进行状态覆盖测试生成,生成的测试向量可以实现对RTL代码内部分枝的覆盖。结合提出的这种方法,选用了部分ITC99-benchmark电路进行了相关实验,给出了实验数据和相关分析,与VTG比较,比VTG生成的测试向量要少一半,而覆盖率平均以后大致相等。2.基于遗传算法的时序电路测试向量生成。文中引入遗传算法,并以状态与状态转换为评估。引入静态状态转换(图)及动态状态转换(图)的概念。给出了静态、动态状态转换的三个基本属性。在此方法的基础上,给出了实验数据,并将结果X-Pulling系统作比较。比较的结果说明:在覆盖率相近的情况下,比X-Pulling运行速度快一个数量级。3. RTL故障模型分析。本文针对RTL故障模型进行分析,分析它与门级固定型故障模型之间的关系;RTL故障模型之间的关系。给出了一些基本概念和定义,依据这些概念和定义又推导出一些推论。在上述分析的基础上,给出了这些分析的一个应用:RTL故障模型序列的寻找及建立。通过分析不同RTL故障模型间的关系,寻找互相不能完全覆盖的RTL故障模型,并将它们作为一个序列用于指导进一步的RTL测试生成。同时,使用三个故障模型作例子,说明该方法、过程。模型序列对于寻找有效RTL故障模型是十分有帮助的。