目前国内外开展关于γ射线成像研究中多数采用晶阵晶体或平板晶体与位置灵敏光电倍增管配合组成探测器。在多功能γ相机的研发中,往往需要探测器能够配合使用不同尺寸的针孔/编码板准直器。晶阵晶体由于晶格单元尺寸的限制并不适用,由平板晶体组成的探测器模块的具有成本较低、光收集效率更高、灵敏度高,具备连续抽样、扩展能力强等优点,更适合应用于多功能γ相机中。但平板晶体受边界条件、厚度、电子学定位算法等因素的影响,始终躲不过边缘压缩效应的问题,所以必须进行数据校正。本论文主要针对平板晶体探测器响应闪烁事件的特点提出了位置校正方法与均匀性校正方法。在位置校正中,建立了探测器响应光子的高斯分布模型,并研制出新型自动化标定系统。借助标定系统完成了平板晶体上38*38点位置标定,经过质心位置查找、算法分割、区域标记等一系列步骤,生成平板晶体数据查询表(Look-Up Table),通过闪烁事件与成像图像的位置信息,建立一一对应的映射条件。在均匀性校正中,为了使探测器不同位置对闪烁事件响应一致,通过长时间的泛场试验获得原始数据累积图,并采用归一化处理的方式生成均匀性系数表。这两张表被软件系统后台读入,分别完成数据的位置校正与均匀性校正,生成辐射图像。将由平板晶体探测器组成的小型γ相机放置于辐射场中,通过辐射实验采集原始数据,分别使用位置校正与均匀性校正方法对原始数据进行处理。经过对比校正后的结果,说明了数据校正方法能够有效缓解平板晶体探测器边缘压缩效应引起的图像畸变,改善成像效果,验证了方法的正确性。再将数据校正方法应用于小型γ相机系统中,采用基于特征点的比例缩放变换的方法来融合光学图像与辐射图像,然后使用针孔/编码板两种准直器在辐射场进行实验,通过测量结果图说明了该由平板晶体探测器组成的γ相机系统能够实现了热点位置信息的定位,也再一次证明了数据校正方法的正确性。