本文以薄膜电晶体-液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display TFT-LCD)生产制造流程的重要设备为研究对象,研究设备的效率提升问题。多年来本人一直从事在TFT-LCD制造的第一线,深知制造部门长期以来一直被困扰的问题是产能不足以满足客户需求而不得不采取人海战术的办法,只有提高产出才能满足客户的需求,然而设备生产效率低是制约产出的瓶颈,现在公司的生产班制不得不进行改革,已经由先前的单班制变为两班制即常白班变为白晚班二十四小时的工作状态。TFT-LCD制造流程由前段阵列(Array)、后段的面板组装(Cell)、模组组装(Module)三大模块组成。其中面板组装模块(CELL)的设备价值最高,其工序也复杂,所以CELL是TFT-LCD制造的核心部分,一旦CELL制造流程中任何一个工站当机立即就会波及到其他工站停工待料。因此深入研究TFT-LCD CELL的设备效率改善对生产制造的意义重大。设备综合效率(Overall Equipment Effectiveness OEE)的分析为改善提供方向,OEE一个有用的分析工具,它把设备综合效率按三个指标(时间效率、绩效效率、质量效率)的乘积反映出来,再将这三个指标层级细分为诸多时间损失,归类为六大时间损失(设备故障时间损失、安装调试时间损失、空转短暂停机损失、速度降低损失、加工废品维修损失、初期不良损失),其分析方法是通过OEE百分比值的追踪,深入了解导致OEE值低的原因是由以上三个指标中的哪一个指标所导致,再从损失比重高的损失中查询生产数据库,然后进行权重分配,再根据二八原则进行展开项目改善。根据这样的逻辑就能够深挖掘出隐藏在平静水面下的礁石即设备损失时间在哪里,效率低由于哪部分的损失所造成,应该从哪方面作手改善效果最明显,这样以来就做到抓重点。同时OEE的分析过程就是对设备日常损失的解析,让设备技术人员更清楚做好计划保养工作,及时处理设备故障和各种计划与非计划的停机,有效的控制停机带来的产能损失,再运用多维数据分析技术提出设备效率的改善措施,降低零组件的失效频率。通过有效的改善措施减少设备的维护时间,提高产能同时改善设备综合运用效率。近年来,我国的TFT制造产业快速发展,设备利用率已经成为管理者重视的重要课题之一,代工产业日新月异,要想在激烈的市场中有一席之地,除了提升研发竞争力外,仍然需要提高设备综合效率,提高产能,减少设备使用数量,从而降低设备维修成本。文章主要以公司TFT—LCD Cell制造流程后段(离散型制造的一种)为出发点,利用OEE的分析找到改善点,从而解除CELL的生产瓶颈提高产能,为生产提供一个有效的设备管理办法。公司目前的现状需从全局设备效率提升开始,才能降低设备成本,提高资金运营效益,使企业保持旺盛发展。研究的成果,通过IE手法进行分析改善,以最小的成本投入使企业获得最大的收益,避免使用大资金来购买新的设备来增加产能,提升LCD的市场竞争力,争取拿到更大的订单,企业获得更大的利润。