PTCR(Positive Temperature Coefficient of Resistance)是一种具有正温度系数特性的半导体电阻,当超过一定的温度范围时,电阻会急剧的增大。PTCR热敏电阻现在已经在很多领域得到了广泛的应用,主要应用于延时启动、自动消磁、自动恒温等场合。因此PTCR的可靠性和生产效率得到了厂家的高度重视,为了能够生产出合格的PTCR热敏电阻,需要对PTCR热敏电阻进行各项性能测试。工厂中传统的对PTCR热敏电阻进行耐电压性能测试已经不能满足对其质量的快速判断,还需要对PTCR热敏电阻进行老化测试以及综合参数的测量,实现对其质量做更精确的判断。本论文设计了一套基于STM32的多工位PTCR综合参数测量系统,能够在耐电压测试的基础上进行老化测试以及综合参数的测量。论文重点阐述了系统的整体结构、硬件电路模块的设计以及软件模块的设计。本系统的硬件部分主要包括STM32主控板、STC从控板以及过流保护板。STM32主控模块通过RS-485总线实现对STC从控模块的控制,实现对PTCR热敏电阻的加压或断压、参考电压的切换、高低压的切换、采样通道的切换、过流状态的读取以及数据的采集,从而完成256工位的耐压测试、老化测试以及动作时间、峰值电流、残余电流等参数的测量。本系统的软件部分由STM32软件、STC软件以及PC上位机软件组成。STM32软件、STC软件采用C语言编写,程序简洁易懂,大大提高了程序设计的效率。PC上位机采用C++编程,Visual Studio C++6.0作为开发平台,通过RS-232串口接收STM32传输过来的数据,对数据进行处理,实现I-t曲线的显示、过流状态的显示、各个参数的显示以及数据的保存。