天线近场测量技术是目前国际上广泛采用的一种高精度天线测量技术,它为大型、高精度天线的研究提供快速、准确的数据,深受天线设计者的青睐。本文研究了一个基于微波暗室的近场测量控制系统。文章重点介绍了天线近场测量控制系统的界面的设计和基于PMAC多轴控制卡的半闭环系统定位控制。文章将整个控制系统分成上层界面控制系统和下层定位控制系统。界面控制系统方面:采用先进的面向对象的程序设计方法,在Delphi语言环境下设计出控制界面。该界面布局上采用分版块的布局设计,实现了系统显示直观、操作简单方便以及容错能力强的设计原则。在程序结构上,采用主菜单到子菜单逐级调用的结构模式,实现系统多个任务的并行和协调处理。定位控制系统方面:以PAMC多轴控制卡为基础,编写出定位控制程序,实现了取样架、探头、转台等运动系统的多轴联动。控制方式上采用半闭环位置控制方式,保证了系统的精度和高稳定性。并对一个完整的定位控制过程做了一番研究。