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本论文主要介绍BESⅢ漂移室中用于电荷测量与时间测量的电路设计。
漂移室电子学系统是BESⅢ漂移室探测器的子系统，主要作用是测量漂移室探测器中电离电子的漂移时间及丝信号所携带的电荷量。
电荷与时间测量电路，即MQT插件，是漂移室电子学系统中最关键、最复杂的电路。每个MQT插件可处理32路的电荷与时间测量。电荷测量采用数值积分法，时间测量使用了CERN制造的测时芯片HPTDC作为核心器件。
MQT插件的数据处理采用了流水线结构，板内的数据处理与逻辑控制都是通过FPGA实现的。数据的读出采用了VME总线的CBLT方式，MQT插件与VME总线的接口及读出逻辑均是由FPGA控制的。
利用校准刻度电路进行了电荷与时间测量的主要指标的测试，其结果满足系统设计要求。