背景：染色体相互易位存在染色体的断裂重接,可通过改变基因内部结构或基因与其作用元件相对位置,从而导致基因表达异常而表现出疾病表型。常规细胞遗传学检测只能对断裂区域作出粗略估计,无法精确定位。新发展起来的Array painting及多种基于第二代测序技术的定位方法对实验人员的数据分析能力要求严格,且费用昂贵。目的：运用细胞遗传学、分子细胞遗传学、分子遗传学等相关技术,精确定位一例有异常表型的46,XX,t(5；15)(q21.1；q21.2),15pss相互易位患者的染色体断裂点。建立染色体断裂点定位的常规方案,探讨染色体重排与表型的关系。方法：本实验从三条技术路径尝试对染色体断裂点进行精确定位：1、短片段探针荧光原位杂交定位法；2、长片段PCR定位法；3、激光显微切割与PCR结合定位法。结果：方法1和方法2未能得到理想结果,运用方法3将断裂点定位在小于2kb范围内。结论：激光显微切割与PCR结合定位法可运用于对染色体断裂点的精确定位。