随着现代设备和电器不断地发展，尤其是嵌入式等高端、复杂的平台产品的不断换代更新，产品的测试工作变得愈发繁重。传统测试手段单一、测试效率低下，测试结果差强人意。目前国内外不少研究人员对电路板组件等产品的测试进行了研究，却缺乏对参数、测试步骤和测流程可重配置等通用性的深入研究。传统设计多为功能固定的专用测试系统，当出现产品升级改造等情况时，旧系统便遭淘汰而需重新设计新的专用系统。造成硬件资源和资金的浪费，阻碍了企业发展的脚步。因此，设计一种通用测试系统对测试质量的提升乃至公司规模的扩大等都有重要的意义。然而通用自动测试系统的设计和测试过程中同样会遇到许多问题，如：硬件难以满足不同类型产品测试的需求，软、硬件模块的可配置性差，难以灵活地编辑测试参数、测试步骤和测试流程，机器视觉图像采集的自动对焦效率低等。本文分析了通用自动测试系统普遍存在的问题，主要研究了其中三种关键技术，完成了相关程序的设计，其中包括：可配置的程序模块，高速数据采集、处理与数据存储程序，自动对焦程序等，还完成了一系列的验证实验。在设计过程中运用了虚拟仪器技术、基于LabVIEW的高速数据采集、分析和存储技术、对焦评价理论和自动对焦等相关技术。最终实现了多参数和多程序模块的灵活配置，高速稳定的数据采集、处理和记录，以及1台主机与2台测试机之间交互数据通信；还实现了速度较快机器视觉监测的自动对焦。本论文的工作为下一步的通用自动测试系统研发提供了良好的基础。本论文中的参数和软件模块可配置方案，以及变步长对焦评价与峰值相结合自动对焦方案具有一定的创新性。