本文从全波分析的角度,改进了一种用于测量微波/射频介质材料复介电常数的同轴探头算法,详细分析了该算法在同轴探头内部加载和外部加载两种情况下的应用,从而得出微波/射频介质材料复介电常数。从同轴线的圆对称结构出发,结合Bessel函数的正交性和Hankel变换,分析计算了同轴探头的电磁场分布,了解到探头的不连续性会引起高次横磁模(TM)。利用模式匹配和相位匹配技术对该种探头进一步分析表明,介质和探头之间的不连续性所引起的TM模对反射系数有影响,且微波/射频介质材料复介电常数与反射系数之间有内在联系。利用同轴探头算法,在0.5GHz-5GHz波段内对一些介质材料(如硅和聚四氟乙烯)的复介电常数进行了分析计算。对应于同轴探头反射系数的计算值和仿真值,进一步计算得到了两种介质材料复介电常数值,与参考值趋于吻合,由此验证该算法是可行的。同时将文中的同轴探头算法与时域有限差分法(FDTD)算法进行了比较,结果表明:同轴探头法的算法推导过程虽复杂,但编程思路清晰简便;FDTD算法是从Maxwell方程出发经差分化而得到的,算法比较容易理解,但编程复杂,而且需要考虑溢出等问题。