边界扫描技术是符合IEEE规范的一种测试方法，JTAG设计的实现降低了测试的复杂度、提高了质量及缩短面市时间。适合进行超大规模集成电路的测试。同时，JTAG以采用更小的体积而提供更强的功能的优势，主要应用到集成电路设计和测试验证的开发研究方面，但实现边界扫描技术需要超出7％的附加芯片面积，同时增加了连线数目，且工作速度有所下降，这些问题有待解决。本文通过对JTAG标准和技术内容的研究，对JTAG在SoC器件中的应用结构进行了分析，提出了相应的简化措施，以此为据，设计了可用于芯片测试的嵌入式JTAG模块(IP软核)，所设计的JTAG模块具有结构简单、技术齐全、支持广泛、测试设计灵活、高精度故障定位等特征，可广泛用于SoC器件的设计。本文通过一定的理论研究，给出了一种实现JTAG结构的具体方法，首次分析了如何选择扫描链的数量与长度的方法与原则，并对测试功耗进行了分析。本文的特点是紧扣IEEE1149.1标准，并对JTAG进行RTL级建模和仿真以及首次对JTAG指令进行了分析，得出JTAG软核的基础测试满足设计要求，并将边界扫描测试设计应用到实际电路当中，实现对边界扫描测试理论的验证。经过仿真验证，证明其设计可靠、方案可行，具有很好的实用价值。