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阐述了荧光渗透检测TI-6AI-4V裂纹缺陷的原理,给出了缺陷宽度和缺陷深度公式。研究了荧光渗透检测的工艺过程,通过对TI-6AI-4V裂纹缺陷的试验分析,表明结构曲率变化过大处是产生裂纹缺陷的区域。对TI-6AI-4V裂纹缺陷的产生原因做了理论、模拟分析和试验研究,表明在加工TI-6AI-4V过程中,切削用量是造成应力集中的重要因素,其中切削深度过大会造成裂纹缺陷。