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期刊论文
传感芯片真空封装的质谱检测
传感芯片真空封装的质谱检测
来源 :光电子技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:qiuyuchengdisk
【摘 要】
:
通过对传感芯片封装前放气性质和封装后密封性能的质谱分析,了解样件的出放气情况以及封装工艺和封装结构性能,可以为优化封装工艺和合适的吸气剂选取提供依据,为传感芯片产
【作 者】
:
赵雷
张禄平
【机 构】
:
南京达京高新技术有限公司
【出 处】
:
光电子技术
【发表日期】
:
2001年3期
【关键词】
:
质谱仪
质谱检测
传感芯片
真空封装
gas analysis
nondamage leak hunting
MS instrument
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通过对传感芯片封装前放气性质和封装后密封性能的质谱分析,了解样件的出放气情况以及封装工艺和封装结构性能,可以为优化封装工艺和合适的吸气剂选取提供依据,为传感芯片产品的漏率检验和品质评判提供检测方案.
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