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基本参数法具有校准元素间的相互影响的功能，同时由于在其浓度归一化的过程中能够消去测量面积和探测立体角项，因此具有校正样品测量面积和形状影响的功能，十分适于贵金属合金及其饰物的分析。本文报道用ＲⅨ２１００型Ｘ射线荧光光谱仪分析贵金属合金及其饰物样品的方法。实验表明，通过选择适当的测量谱线和背景测量角度，并将邻近谱线对测量谱线背景的影响作为谱线重叠处理，可以确保分析的准确度。同一样品不同测量面积下得到