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厚度为6-100nm的（La0．6Nd0．4）0．7Sr0．3MnO3（LNSMO）薄膜是由脉冲激光沉积生长在SrTiO3[STO（001）]衬底上．X-射线衍射（XRD）线扫描、一摇摆曲线和倒空间衍射显示，随着膜厚（t）的变化，薄膜的结构经历了由完全应变到部分弛豫的变化．电阻测量显示存在两个不同的厚度依赖的金属一绝缘体转变温度（Tp），对于应变的薄膜（t≤17nm），Tp敏感地依赖于双轴应变和膜厚；而对较厚的薄膜（t≥35rim），Tp对于膜厚是较小敏感的．这个厚度依赖的输运性的变化可被解释为菱形LNS