介绍了基于聚龙一号装置的Z 箍缩诊断和实验布局，分析了丝数132?300、丝直径5?10μm、丝阵直径13?30 mm的单/双层钨丝阵Z箍缩内爆动力学过程和软X射线辐射特性规律。研究表明，钨丝阵等离子体的停滞时间与零维薄壳模型计算的停滞时间一致，内爆轨迹存在偏离，丝阵等离子体内爆开始前以丝烧蚀为主，内爆开始时间约为总内爆时间的67%；随着负载质量和半径的增大，负载电流、内爆停滞时间和X射线辐射脉冲半高宽也相应增加，X 射线辐射峰值功率减小。双层钨丝阵的内爆均匀性和一致性优于单层丝阵，其辐射峰值功率明显高于单层钨丝阵，但单/双层钨丝阵辐射产额基本相当，能量转换效率约为15%。此外，还初步讨论了单层钨丝阵驱动的低密度泡沫动态黑腔辐射功率波形特征及其与纯钨丝阵内爆辐射的差异。