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针对现有弹光调制器(photoelastic-modulator ,PEM )的调制频率高(几十kHz以上),调制干涉信号频率更高,普通阵列探测器无法有效采集,提出了一种基于双弹光调制器拍频调制和傅里叶-贝塞尔(Fourier-Bessel)变换的光谱测量方法,并结合CCD成像技术构成新型双弹光调制成像光谱技术(dual-photo-elastic-modulator-based imaging spectrometer ,Dual-PEM-IS)。该方法将双弹光调制器分别工作在数值略有差异的频率上,以对