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利用磁控溅射技术合成了Ti-Ta-O薄膜涂层.采用体外血小板粘附试验、动态凝血时间测定以及动物体内试片埋植试验等评价方法,对涂层的抗凝血特性进行了研究;并采用Tauc 法研究了涂层的禁带宽度.研究结果表明,Ti-Ta-O薄膜涂层具有良好的抗凝血特性以及禁带宽度为3.2eV的半导体特性.此外,探讨了Ti-Ta-O涂层的抗凝血机理,并提出材料的半导体特性是影响Ti-Ta-O涂层抗凝血特性的主要原因之一.