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某发射筒端盖在进行开盖性能测试时出现形态异常现象。采用X射线检测、仿真分析等方法对该端盖形态异常的原因进行了分析。结果表明：端盖中的金属增强材料偏移至应力沟槽，试验方法选用不当，导致了该端盖在测试时形态异常；X射线检测可以发现端盖中的金属增强材料偏移至应力沟槽，动态开盖试验方法也可以避免端盖在测试时出现形态异常。