采用钽管封装熔炼和热压烧结技术制备了Ca₂Si_1-xSn_x（x=0,0.02,0.04,0.06）热电材料。利用X射线衍射（XRD）对样品的物相结构进行了表征,XRD结果表明,Ca₂Si_1-xSn_x块体材料的XRD图谱与Ca₂Si的XRD图谱对应一致,但所有样品中都出现Ca₅Si₃衍射峰。当掺杂量Sn为0.06时,样品Ca₂Si_1-xSn_x（x=0.06）的XRD图谱中还出现了CaSn3相。在室温下测试了样品的霍尔系数,在300⁸73K温度范围内研究了Sn掺杂对Ca₂Si电导率和Seebeck系数的影响,随着Sn掺杂浓度的增加,电导率逐渐增大,Seebeck系数则减小。分析了Sn掺杂对Ca₂Si晶格热导率和热导率的影响,Sn掺杂浓度为x=0.02和x=0.04时,晶格热导率减小,从而对热导率有所优化,其中Ca₂Si_1-xSn_x（x=0.02）的热导率得到明显地改善,在300⁸73K温度范围内,其热导率都低于Ca₂Si的热导率。在550⁸73K温度范围内,Ca₂Si_1-xSn_x（x=0.02）表现了较高的ZT值,873K时的最大ZT值为0.22。