OBDD在组合逻辑电路测试中的应用研究

来源 :计算机辅助设计与图形学学报 | 被引量 : 15次 | 上传用户：cutuf

【摘要】

：

传统的组合逻辑电路测试方法在搜索过程中都不可避免地要进行反向回溯 ,由于反向回溯的次数过多 ,往往会降低算法的效率 .文中利用 OBDD来表示电路中每个节点所代表的逻辑函数 ,把传统算法中的反向回溯过程转换为 OBDD图的问题 ,从而加快了故障测试的速度 .同时 ,OBDD在测试矢量集的生成以及必要值的确定中也显示出一定的优越性

【作者】

：

吕宗伟林争辉张镭

【机构】

：

上海交通大学大规模集成电路研究所　上海　200030

【出处】

：

计算机辅助设计与图形学学报

【发表日期】

：

2001年06期

【关键词】

：

组合逻辑电路故障检测 OBDD 测试逻辑函数 combinational logic circuits fault detection test gen

【基金项目】

：

美国国家科学基金

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