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在脉冲计数法的基础上结合边沿检测技术,设计了一种可用于高倍速的光盘抖晃测试系统,代替传统的时间间隔分析仪(TIA).系统最大测量误差仅504 ps,最高可工作在32倍速下.基于现场可编程门阵列FPGA芯片实现,结构简单、精度高、成本低及测试速度快,在盘片质量检测和抖晃特性研究领域有广泛的应用前景和实用价值.